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立方铁锰矿结构
立方铁锰矿结构
2021-07-06T01:07:48+00:00
In2O3晶体的合成及其形貌表征 豆丁网
2014年6月9日 以3mol／LKOH作为矿化剂，填充度为35％，前驱物为市售In203（立方铁锰矿相和六方刚玉相混合物），温度为430，在水热条件下转化为立方铁锰矿ha203晶体。说明在水热条件下，立方铁锰矿相较刚玉结构的六方相更稳定。方铁锰矿结构 方铁锰矿的晶体结构中，氧原子与铁、锰原子之间的键长较短，键能较大，使得方铁锰矿具有较高的硬度和耐磨性。 此外，方铁锰矿还具有较好的导电性和磁性，因 方铁锰矿结构百度文库阅读量： 100 作者： 张海忠 摘要： 本文制备了底栅结构的氧化铟 (In2O3)基薄膜晶体管,并对其性能进行了研究In2O3 是一种具有立方铁锰矿结构的宽禁带氧化物半导体材料,禁 In2O3TFT 的制备及其性能研究 百度学术
中国科学院机构知识库网格系统: In2O3TFT 的制备及其性能研究
2010年5月30日 In2O3 是一种具有立方铁锰矿结构的宽禁带氧化物半导体材料，禁带宽度约为36 eV，也是一种典型的透明氧化物半导体材料，在可见光波段表现出了良好的透明 方铁锰矿结构方铁锰矿Biblioteka Baidu构方铁锰矿是一种氧化物矿物,化学式为Fe^2+Mn^2+O4,属于尖晶石族矿物。其晶体结构为立方晶系,空间群为Fd3m(Oh^7),晶 方铁锰矿结构百度文库2021年2月22日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In2O3晶体结构的掺杂，In2O3中In原子是六配位，O原子是四配位。 In2O3晶体结构中本征缺位（氧缺位） ITO透明导电薄膜发展历程 知乎
团簇结构与性质 物理学报
2009年1月12日 34%5"是立方反方铁锰矿结构，空间群为 ’%[(，!$]8根据34 %5"晶体的结构特性，设计出可能的 团簇模型做为初始结构8综合考虑计算量和精度，采 用了密度泛 2010年5月30日 本文制备了底栅结构的氧化铟(In2O3)基薄膜晶体管，并对其性能进行了研究。 In2O3 是一种具有立方铁锰矿结构的宽禁带氧化物半导体材料，禁带宽度约为36 In2O3TFT 的制备及其性能研究 Semantic Scholar2020年8月10日 XRD 谱相比较，所有ITO 薄膜均为立方铁锰矿相结构[12]。但是，图1 中ITO 薄膜 XRD 不同晶面相对衍射强调并不相同。ITO 薄膜(a)的XRD 谱中各衍射峰相对强 最新录用 物理学报
方铁锰矿结构百度文库
方铁锰矿结构 方铁锰矿是一种重要的矿物资源，其结构具有独特的特点。方铁锰矿的化学式为FeMnO4，属于四方晶系，晶体结构为空间群Pnma。其晶体结构由铁、锰、氧三种元素构成，其中铁和锰的比例为1:1，氧原子与铁、锰原子形成八面体配位。2019年4月19日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In2O3晶体结构的掺杂，In2O3中In原子是六配位，O原子是四配位。In2O3晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn4+替代In位两种机制共同贡献了大量自由电 专稿一文了解透明导电薄膜材料ITO电子2021年2月22日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In2O3晶体结构的掺杂，In2O3中In原子是六配位，O原子是四配位。In2O3晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn4+替代In位两种机制共同贡献了大量自由电子，因此ITO为n型半导体，载流子浓度 ITO透明导电薄膜发展历程 知乎
可不可以介绍下ITO透明导电薄膜的发展历程？ 知乎
2021年3月23日 ITO透明导电薄膜发展历程 在 透明导电氧化物薄膜 中,ITO具有很高的可见光透射率 (90%),较低的 电阻率 (104~103Ω?cm),较好的 耐磨性 ,同时 化学性能 稳定因此,ITO在TCO薄膜中的比重最高 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构,是基于In2O3 晶体结构 的掺杂,In2O3中 In 2020年12月23日 立方铁锰矿结构是最常见的 In 2 O 3 结构，如图 1 所示。 当将氧化锡掺杂到氧化铟中以形成氧化铟锡固溶体时，一种高度简并的 n 型半导体得以产生，其中一定数量的 In 3+ 位置被 Sn 4+ 取代了，导致 ITO 晶格中出现大量点缺陷，同时产生大量自由电子，点缺陷和自由电子可充当电场下的载流子，因此 ITO靶材应用及发展前景2009年1月12日 34%5" 是立方反方铁锰矿结构，空间群为 ’%[(，!$]8根据34 %5" 晶体的结构特性，设计出可能的 团簇模型做为初始结构8综合考虑计算量和精度，采 用了密度泛函理论中的杂化密度泛函,%/ 方法，在01%!2! 基组水平上，用24JXXC4: % 程序对 第’$ 卷第团簇结构与性质 物理学报
In2O3TFT 的制备及其性能研究 百度学术
本文制备了底栅结构的氧化铟 (In2O3)基薄膜晶体管,并对其性能进行了研究In2O3 是一种具有立方铁锰矿结构的宽禁带氧化物半导体材料,禁带宽度约为36eV,也是一种典型的透明氧化物半导体材料,在可见光波段表现出了良好的透明性近年来,基于透明氧化物半导体 (TOS 单斜晶系，晶体少见，通常呈钟乳状、肾状和葡萄状集合体，亦有呈致密块状和树枝状。颜色和条痕均为黑色。半金属光泽。硬度4～6，比重44～47。硬锰矿主要是外生成因，见于锰矿床的氧化带和沉积锰矿床中，亦是锰矿石中很常见的锰矿物，是炼锰的重要矿物原料。方锰矿百度百科2002年4月20日 ITO 薄膜的光学性质由 In2 O3 立方铁锰矿结构中 引入的缺陷决定 。 导电电子主要来源于氧空位 Vo 和锡 替代原子 SnIn 这两种主要缺陷 , 含有百分之几的 Sn 时 ,氧空位可以忽略 。 不同条件下制备的薄膜有不同缺 4 陷。 ITO 薄膜电阻率相当低 ( 10 Ωcm) , 载 ITO薄膜的光学和电学性质及其应用百度文库
一文了解透明导电薄膜材料ITO 维科号
2019年5月4日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In 2 O 3 晶体结构的掺杂，In 2 O 3 中In原子是六配位，O原子是四配位。 In 2 O 3 晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn 4＋ 替代In位两种机制共同贡献了大量自由电子，因此ITO为n型半导体，载流子浓度在10 21 ／cm 3 左右，为重掺杂。2023年1月30日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In2O3晶体结构的掺杂，In2O3中In原子是六配位，O原子是四配位。In2O3晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn4+替代In位两种机制共同贡献了大量自由电 透明导电膜——ITO 知乎2015年2月20日 有立方铁锰矿结构，晶格参数是10117 nm ，密度是 712g 个氧原子位于立方体的顶角，留下两个氧缺位。 这样出现了不等价的两类阴离子，临近的和 远离缺位的氧离子 会失去电子，其结构可以表示它为 其中x"001 表示一个带正电荷2e 的氧空位， 掺杂有Sn 2ySn 这里，我们已经忽略了氧空位。ITO薄膜的光学和电学性质及其应用 豆丁网
氧化铟晶体点缺陷和光学性质的研究 豆丁网
2019年3月11日 并在此基础上，用G0W0近似对能带结构进行修正，比较能带结构的准确性，发现HSE+G0W0计算的能带结构和实验值符合的很好。第五章，在HSE06+G0W0基础上，求解BSE方程，计算了In2O3晶体的光吸收谱等性质，解释了In2O3晶体的透明导电机理。摘要： 介绍了氧化铟锡 (ITO)薄膜的光学和电学性质及应用。 优化的ITO薄膜有立方铁锰矿结构。 掺杂的Sn替代In2 O3 晶格上的In原子 ,每个Sn原子可以看作给导带提供一个自由电子。 ITO薄膜载流子浓度为～ 10 2 0 cm3 ,电阻率为～ 10 4Ωcm ,是高度简并半导体 ,其能带 ITO薄膜的光学和电学性质及其应用 百度学术2020年10月21日 立方铁锰矿结构是常见的In2O3结构，如图1所示。 当将氧化锡掺杂到氧化铟中以形成氧化铟锡固溶体时，一种高度简并的n型半导体得以产生，其中一定数量的In3+位置被Sn4+取代了，导致ITO晶格中出现大量点缺陷，同时产生大量自由电子，点缺陷和自由电子可充当电场下的载流子，因此表现出了优异的 ITO靶材应用及发展前景 化工仪器网
体心立方结构 百度百科
2023年5月23日 从铁器时代开始，bcc结构的金属或者合金已经被人类广泛地应用到生产和生活当中。它们最主要的优点是在很宽的温度范围和很大的应变状态下都表现出很高的强度。但是它们的塑性变形方式与面心立方（facecentered cubic, fcc）结构的金属有较大的差别，这主要是由它们的晶体学点阵特点和高的晶格 2021年4月10日 ITO，即掺锡氧化铟，是目前人们研究和应用最广泛的一种透明导电氧化物(transparent conductive oxide, TCO)材料。ITO具有较为复杂的晶体结构(图 2a)，由锡原子掺杂在氧化铟(In 2 O 3)的体心立方铁锰矿结构中构成，其典型的X射线衍射(XRD)图如 图 2b 所 基于氧化铟锡电极的透明忆阻器件工作机制研究进展2011年6月6日 XRD分析结果表明：制备的ITO透明导电薄膜仍保持立方晶体结构，即具有立方铁锰矿 结构，同时没有发现单质Sn和Sn氧化物（SnO，Sn02）的特征峰，说明Sn元素已经溶入In203晶格中形成了固溶体。TEM分析结果表明 ITO透明导电薄膜的组分、微结构及其光电特性研究 豆丁网
In2O3晶体电子结构和光吸收机理研究
为了得到准确的In2O3晶体电子结构, 本文分别采用GGA, GGA+U, HSE06的方法计算了电子结构, 并进行了G0W0修正, 通过比较计算结果, 得到HSE06+G0W0方法计算得到的禁带宽带最接近实验结果 在此基础上使用Hedin的G0W0近似方法和BetheSalpeter方程计算得到了In2O3晶体的光学性质 2022年7月26日 方铁锰矿已知有气成，热液和变质成因。它产在流纹岩的晶洞里，与黄玉、石榴子石、绿柱石、赤铁矿和石英共生。与石英、白云母、萤石、微斜长石等共生于热液脉中。有时呈斑状边境锰钡矿矿石或锰黑云母、方解石集合体里。还呈细粒集合体状见于锰矿石中。方铁锰矿化学、光学、力学和结晶学的性质与特征矿机之家2022年8月18日 ITO 在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于 In2O3 晶体结构的掺杂，In2O3 中 In 原子是六配位，O 原子是四配位。 In2O3 晶体结构中本征缺位（氧缺位）和 Sn4+ 替代In位两种机制共同贡献了大量自由电子，因此 ITO 为 n 型半导体，载流子浓度在 1,021/cm3左右，为重掺杂。深度解读：透明导电薄膜材料ITO “中科创投研究院”旗下新媒体
230种晶体学空间群的记号及常见矿石的名称、分子式与所属晶系
点群表示晶体外形上 的对称关系，空间群表示晶体结构内部的原子及离子间的对称关系。空间群一共 230 个，它 们分别属于 32 个点群。晶体结构的对称性不能超出 230 个空间群的范围，而其外形的对称 性和宏观对称性则不能越出 32 个点群的范围。2022年10月24日 ITO导电膜是氧化铟锡膜，主要成分是90%的In2O3和10% 的SnO2，其晶体结构是立方铁锰矿结构，是一种可直接跃迁宽禁带的半导体材料。 ITO导电膜主要成分In2O3在形成过程中没有构成理想的化学配比结构，结晶结构中缺少氧原子，因此存在过剩的自由电子，于是ITO膜具备了一定的导电性。ITO导电玻璃之所以可以导电的关键及核心ITO导电膜要求 2005年1月23日 图" 立方晶胞壳层数示意图 图# 34#5) 立方晶胞结构图 这种方法可以推广到求其他晶系的晶体马德隆 常数 因为所有晶体总可以用群论方法找到最小复 重单元平行六面体晶胞沿该平行六面体晶胞的三 个棱的三个基矢为!，"，#，在这三个方向上的坐标复杂离子晶体马德隆常数研究
ITO导电膜工作原理、未来发展趋势和应用
2022年10月19日 ITO导电膜是氧化铟锡膜，主要成分是90%的 In 2 O 3 和 10% 的 SnO 2，其晶体结构是立方铁锰矿结构，是一种可直接跃迁宽禁带的半导体材料。ITO导电膜主要成分 In 2 O 3 在形成过程中没有构成理想的化学配比结构，结晶结构中缺少氧原子，因此存在过剩的自由电子，于是ITO膜具备了一定的导电性。2020年8月10日 XRD 谱相比较，所有ITO 薄膜均为立方铁锰矿相结构[12]。但是，图1 中ITO 薄膜 XRD 不同晶面相对衍射强调并不相同。ITO 薄膜(a)的XRD 谱中各衍射峰相对强度 与标准粉末的XRD谱相同，表明ITO薄膜(a)为无择优多晶结构。与标准粉末的XRD 最新录用 物理学报2020年2月18日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In2O3晶体结构的掺杂，In2O3中In原子是六配位，O原子是四配位。In2O3晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn4+替代In位两种机制共同贡献了大量自由电子，因此ITO为n型半导体，载流子浓度 一文了解透明导电薄膜材料ITO （广告位租赁中） 透明导电
ITO靶材应用与解决方案上海皓越电炉技术有限公司
立方铁锰矿结构是最常见的In 2 O 3 结构，如图1所示。 当将氧化锡掺杂到氧化铟中以形成氧化铟锡固溶体时，一种高度简并的 n 型半导体得以产生，其中一定数量的 In 3+ 位置被Sn 4+ 取代了，导致ITO晶格中出现大量点缺陷，同时产生大量自由电子，点缺陷和自由电子可充当电场下的载流子，因此表现出 2014年4月15日 方铁锰矿 Mn 2 O 3 立方 铁透闪石 Ca 2 Fe 5 [Si 8 O 22](OH) 2 单斜 黑锰矿 Mn 3 O 4 四方 钙镁电气石 CaMg 4 Al 5 B 3 Si 6 O 27 (OH) 4 三方 硫锰矿 MnS 立方 白云石 CaMg(CO 3) 2 三方 方硫锰矿 MnS 2 立方 透辉石 CaMg(SiO 常见矿石的名称 化学自习室2018年9月20日 (400) 晶面, 说明样品的主晶相为In2O3 的立方多 晶铁锰矿结构 通过XRD测试结果发现, 随着基底 温度的升高, (400)晶面的衍射峰明显增强, (222) 晶面的衍射峰强度先增强后减弱, 表明对应ITO 薄膜的结晶性先提高后降低 这是由于在溅射过铟锡氧化物薄膜表面等离子体损耗降低的研究
磁控溅射法制备ITO薄膜的结构及光电性能研究(硕博学位论文
2011年2月18日 ITO薄膜是一种具有立方铁锰矿结构，重掺杂、高简并n型半导体。 ITO薄膜具有低电阻率（710巧Q ern）、高可见光透射率（80％）口1、红外高反 射比、良好的化学稳定性、玻璃基体结合牢固、抗擦伤以及半导体特性等优 点。 由于ITO薄膜材料具有优异 2022年4月25日 ITO 在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于 In 2 O 3 晶体结构的掺杂， In 2 O 3 中 In 原子是六配位， O 原子是四配位 。 In 2 O 3 晶体结构中本征缺位（氧缺位）和 Sn 4+ 替代 一文了解透明导电薄膜材料ITO上海卷柔新技术商业新知结构 通式 ABO3，其中A代表二价金属离子，B代表四价 金属离子。它是一种复合氧化物结构，该结构也可 以是A为一价金属离子，B为五价金属离子。 CaTiO3（钙钛矿型）晶体结构 Ca2+ O2 Ti4+ 化学式 CaTiO3 晶体结构 立方晶系， a0=0385nm 立方面心格子第二章 晶体结构 238钙钛矿型晶体结构分析0615CG
in2o3晶体的合成及其形貌表征 豆丁网
2015年11月25日 mol／LKOH作为矿化剂，填充度为35％，前驱物为市售In203（立方铁锰矿相 和六方刚玉相混合物），温度为430，在水热条件下转化为立方铁锰矿tn203晶体。 说明在水热条件下，立方铁锰矿相较刚玉结构的六方相更 稳定。 采用10 mol／L KOH为矿化 2021年7月9日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In2O3晶体结构的掺杂，In2O3中In原子是六配位，O原子是四配位。In2O3晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn4+替代In位两种机制共同贡献了大量自由电子，因此ITO为n型半导体，载流子浓度 光电触摸显示屏背后的功臣：ITO靶材 电子工程专辑 EE 2016年10月18日 能带结构、光电性能及力学性能等方面的研究进 展，简略探讨了ITO 薄膜的研究发展方向。 1 ITO薄膜的微结构特性 通常，利用各种沉积方法制备的晶态或非晶 态ITO 薄膜材料的主相均为In2O3。 In2O3 稳定相为立方相，密度为712 g/cm 3，具有体心立方铁 ITO 薄膜的研究进展
有机材料衬底 ITO 的结构和导电特性研究
2005年9月2日 具有三氧化二铟的立方铁锰矿结构, 薄膜的最佳取向为 (111) 方向 随着衬底温度的升高, 衍射峰的强度增加, 半高 宽减小, 这表明薄膜的平均晶粒度随淀积温度的升高而增 大 根据衍射谱可以估算出薄膜的平均晶粒度约为15～ 35nm [9]以3 mol/L KOH作为矿化剂,填充度为35%,前驱物为市售In2O3(立方铁锰矿相和六方刚玉相混合物),温度为430℃,在水热条件下转化为立方铁锰矿In2O3晶体说明在水热条件下,立方铁锰矿相较刚玉结构的六方相更稳定 采用10 mol/L KOH为矿化剂,填充度为35%,温度 In2O3晶体的合成及其形貌表征 百度学术实验结果表明:以300℃作为热处理温度,在普通玻璃基体上制备ITO透明导电薄膜是完全可行的所制备的ITO薄膜在未热处理时为InOCl的四方结构,薄膜中残存着少量干燥过程中因有机物的分解后不完全氧化的碳通过延长热处理时间,残存的碳逐渐被氧化,InOCl逐渐分解为 铟锡氧化物(ITO)薄膜的制备工艺和性能研究 百度学术
In2O3TFT的制备及其性能研究百度文库
本文制备了底栅结构的氧化铟(In2O3)基薄膜晶体管，并对其性能进行了研究。 In2O3 是一种具有立方铁锰矿结构的宽禁带氧化物半导体材料，禁带宽度约为 36 eV，也是一种典型的透明氧化物半导体材料，在可见光波段表现出了良好的透明性。方铁锰矿结构 方铁锰矿是一种重要的矿物资源，其结构具有独特的特点。方铁锰矿的化学式为FeMnO4，属于四方晶系，晶体结构为空间群Pnma。其晶体结构由铁、锰、氧三种元素构成，其中铁和锰的比例为1:1，氧原子与铁、锰原子形成八面体配位。方铁锰矿结构百度文库2019年4月19日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In2O3晶体结构的掺杂，In2O3中In原子是六配位，O原子是四配位。In2O3晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn4+替代In位两种机制共同贡献了大量自由电 专稿一文了解透明导电薄膜材料ITO电子
ITO透明导电薄膜发展历程 知乎
2021年2月22日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In2O3晶体结构的掺杂，In2O3中In原子是六配位，O原子是四配位。In2O3晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn4+替代In位两种机制共同贡献了大量自由电子，因此ITO为n型半导体，载流子浓度 2021年3月23日 ITO透明导电薄膜发展历程 在 透明导电氧化物薄膜 中,ITO具有很高的可见光透射率 (90%),较低的 电阻率 (104~103Ω?cm),较好的 耐磨性 ,同时 化学性能 稳定因此,ITO在TCO薄膜中的比重最高 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构,是基于In2O3 晶体结构 的掺杂,In2O3中 In 可不可以介绍下ITO透明导电薄膜的发展历程？ 知乎2020年12月23日 立方铁锰矿结构是最常见的 In 2 O 3 结构，如图 1 所示。 当将氧化锡掺杂到氧化铟中以形成氧化铟锡固溶体时，一种高度简并的 n 型半导体得以产生，其中一定数量的 In 3+ 位置被 Sn 4+ 取代了，导致 ITO 晶格中出现大量点缺陷，同时产生大量自由电子，点缺陷和自由电子可充当电场下的载流子，因此 ITO靶材应用及发展前景
团簇结构与性质 物理学报
2009年1月12日 34%5" 是立方反方铁锰矿结构，空间群为 ’%[(，!$]8根据34 %5" 晶体的结构特性，设计出可能的 团簇模型做为初始结构8综合考虑计算量和精度，采 用了密度泛函理论中的杂化密度泛函,%/ 方法，在01%!2! 基组水平上，用24JXXC4: % 程序对 第’$ 卷第本文制备了底栅结构的氧化铟 (In2O3)基薄膜晶体管,并对其性能进行了研究In2O3 是一种具有立方铁锰矿结构的宽禁带氧化物半导体材料,禁带宽度约为36eV,也是一种典型的透明氧化物半导体材料,在可见光波段表现出了良好的透明性近年来,基于透明氧化物半导体 (TOS In2O3TFT 的制备及其性能研究 百度学术单斜晶系，晶体少见，通常呈钟乳状、肾状和葡萄状集合体，亦有呈致密块状和树枝状。颜色和条痕均为黑色。半金属光泽。硬度4～6，比重44～47。硬锰矿主要是外生成因，见于锰矿床的氧化带和沉积锰矿床中，亦是锰矿石中很常见的锰矿物，是炼锰的重要矿物原料。方锰矿百度百科
ITO薄膜的光学和电学性质及其应用百度文库
2002年4月20日 ITO 薄膜的光学性质由 In2 O3 立方铁锰矿结构中 引入的缺陷决定 。 导电电子主要来源于氧空位 Vo 和锡 替代原子 SnIn 这两种主要缺陷 , 含有百分之几的 Sn 时 ,氧空位可以忽略 。 不同条件下制备的薄膜有不同缺 4 陷。 ITO 薄膜电阻率相当低 ( 10 Ωcm) , 载 2019年5月4日 ITO在一般情况下为体心立方铁锰矿结构，是基于In 2 O 3 晶体结构的掺杂，In 2 O 3 中In原子是六配位，O原子是四配位。 In 2 O 3 晶体结构中本征缺位（氧缺位）和Sn 4＋ 替代In位两种机制共同贡献了大量自由电子，因此ITO为n型半导体，载流子浓度在10 21 ／cm 3 左右，为重掺杂。一文了解透明导电薄膜材料ITO 维科号